Silicon Analyse

Ihr Partner für kundenspezifische Silicon Analysen und Problemlösungen

Stehen Sie vor einer Herausforderung in der Siliconanalytik, Siliconverarbeitung, -anwendung oder Formulierungsentwicklung und möchten diese analytisch lösen?

Wir sind kein gewöhnliches Labor für Routineanalysen, sondern auf individuelle Konzepte spezialisiert, die Ihre individuellen Anforderungen erfüllen.
Unser interdisziplinäres Team aus Expertinnen und Experten in Wissenschaft, Ingenieurwesen und Technik verfügt über langjährige Erfahrung im Bereich der Silicone und berät Sie gerne.

 

Wir unterstützen Sie bei: 

  • Problemdefinition
  • Ableitung, Durchführung und Vermittlung geeigneter Standardanalysemethoden
  • Entwicklung und Anpassung problemspezifischer Analysen und Prüfmethoden
  • Interpretation der Analyseergebnisse und Ableitung von Maßnahmen für die Praxis

     

In Zusammenarbeit mit unserem Zentrum für Angewandte Analytik ZAA bieten wir Ihnen folgende Silicon Analysen an:

Rheologische Untersuchungen

Rheometer MCR 502
© Anton Paar

 

  • Rheologische Charakterisierung von Siliconkautschuk, Flüssigsiliconkautschuk, RTV-Siliconen und Silikonvorstufen im Rotations- oder Oszillationsmodus
  • Untersuchung der thermischen Vernetzungsreaktion von additionsvernetzenden Siliconen

Charakterisierung vernetzter Siliconproben

ErgoTec Teststand Dauerprüfung für Materialanalyse
© Fraunhofer ISC
ErgoTec Teststand Dauerprüfung für Materialanalyse
  • Spannungs-Dehnungskurven
  • Bestimmung Bruchspannung, Reißdehnung und Elastizitätsmodul (Young-Modul)
  • Zyklischer Zugtest, Materialcharakterisierung vor und nach zyklischer Beanspruchung
  • Zyklischer Zugtest an elektrisch leitfähigen Kompositen, Online-Überwachung des Widerstands während des Tests
  • Zyklischer Drucktest
  • Quellvermögen in verschiedenen flüssigen Medien (polar/unpolar)
  • Auslagerung des Materials unter Einwirkung klimatischer Bedingungen (Temperatur und Feuchtigkeit) sowie UV-Strahlung

Chemische Analytik an vernetzten und unvernetzten Siliconen

  • Nachweis von metallischen Verunreinigungen (insbesondere Platin) nach dem Aufschluss mittels Photometrie und/oder ICP-OES (induktiv gekoppeltes Plasma)
  • Soxhlet-Extraktion kombiniert mit einer qualitativen und halb-quantitativen Analyse des Extraktes auf flüchtige Bestandteile mittels GC-MS
  • Soxhlet-Extraktion kombiniert mit einer quantitativen Analyse des Extrakts auf nichtflüchtige organische Bestandteile mittels HPLC-MS
  • IR- und Raman-Spektroskopie: Nachweis von funktionellen Gruppen (insbesondere Si-H und Vinyl) in Vorprodukten und vulkanisiertem Elastomer
  • NMR-Spektroskopie an flüssigen/löslichen Vorstufen
    • Nachweis z.B. von Methyl-, Ethyl-, Phenyl-, Vinyl- und Si-H-Gruppen
    • Differenzierung von M-, D-, T-, Q-Gruppen in den Vorstufen
  • Bestimmung des thermischen Verhaltens (z. B. Glasübergang, Erweichungspunkt, Zersetzung) und Charakterisierung der freigesetzten flüchtigen Komponenten über TGA/DSC-MS/IR
  • Bestimmung der Molekülgrößenverteilung des Polymers mittels Größenausschlusschromatographie/Gelpermeationschromatographie (SEC/GPC)

 

 

Zentrum für Angewandte Analytik ZAA

Weitere Informationen zu unseren Angeboten im Bereich der Materialanalytik finden Sie auf der Website des ZAA